Особливості розподілу нанооб’єктів на поверхні парофазних конденсатів напівпровідників IV-VI

Y. P. Saliy, M. A. Ruvinskiy, L. I. Nykyruy

Анотація


Досліджено вплив технологічних факторів отримання: часу та температур випарника та підкладки на статистику об’єктів на поверхні плівок PbTe легованого Bi,осаджених з пари у вакуумі на підкладки з ситалу. Використано атомно-силову мікроскопію, методи обробки зображення та перевірки статистичних гіпотез. Проаналізовано вплив технологічних факторів на статистику розмірів поверхневих кристалітів та їх кореляцію між собою.


Ключові слова:
cтатистичні розподіли, поверхневі об’єкти, фактор форми.


Посилання


A. N. Shimko, G. E. Malashkevich, D. M. Freik, L. I. Nykyruy, V. G. Lytovchenko, Journal of applied spectroscopy 80 932 (2014).

Y. P. Saliy, D.M. Freik, I. K. Yurchyshyn, I. M. Freik, Journal of Nano- and Electronic Physics 5 03038 (2013).

Y. P. Saliy, B. S. Dzundza, I. S. Bylina, O. B. Kostyuk, Journal of Nano- and Electronic Physics 8 02045 (2016).

R. W. Siegel, H Hahn, in Current Trendsin Physicsof Materials, ed. M. Yussouff (Singapore: WorldSci. Publ. Co, 1987).

H. Gleiter, Progr. Mater. Sci. 33 233 (1989).

A. I. Gusev, UspihPhys. Nauk 168 55 (1998).

L. D. Landau, E. M. Lifshits, Statistical Physics. Part 1 (Nauka, Moskow, 1976).


Повний текст: PDF
7 :: 17

Посилання

  • Поки немає зовнішніх посилань.