Синтез та електричні властивості тонких плівок аргіродиту Ag8SnSe6

I. V. Semkiv, H. A. Ilchuk, T. O. Dubiv, R. Yu. Petrus, E. O. Zmiiovska, V. V. Kusnezh, N. A. Ukrainets

Анотація


Проведено синтез тонких плівок аргіродиту Ag8SnSe6 товщиною 500 нм за допомогою температурної витримки плівок Ag-Sn в парах елементарного селену при температурі 480 oC. Проведено рентгеноструктурні дослідження отриманих плівок показали утворення потрійної сполуки Ag8SnSe6 у орторомбічній фазі з параметрами кристалічної гратки a = 7,9081(6) Å, b = 7,8189(7) Å, c = 11,0464(9) Å, V = 683,03(10) Å3. Створено комірку резистивного перемикання на основі плівки Ag8SnSe6 з срібним та склографітовим електродами. Проведено дослідження електричних параметрів комірки методами імпедансної спектроскопії та циклічної вольтамперометрії. Ці дослідження дозволили змоделювати комірку та процеси, що в відбуваються за допомогою електричної еквівалентної схеми та показати наявність явища резистивного перемикання при певних прикладених напругах.
Ключові слова:
аргіродит, рентгенівська дифрактометрія, електрохімічна комірка, імпедансна спектроскопія, резистивне перемикання.

Посилання


R. Waser and M. Aono, Nature Materials 6, 833 (2007).

A. Sawa, Materials Today 11, 28 (2008).

R. Waser, R. Dittmann, G. Staikov and K. Szot., Adv. Mater. 21, 2632 (2009).

Z. Guo, M.-Q. Li, J.-H. Liu, and X.-J. Huang, Small, 11(47), 6285 (2015).

K. Terabe, T. Hasegawa, T. Nakayama, M. Aono, Nature 433, 47 (2005).

M. Mitkova, M.N. Kozicki, J. Non-Cryst. Solids 299-302, 1023 (2002).

M. Mitkova, M.N. Kozicki, H.C. Kim, T.L. Alford, Thin Solid Films 449, 248 (2004).

M.N. Kozicki, M. Park, M. Mitkova, IEEE T-NANO 4, 331 (2005).

Patent No 111131 Ukraine, M.V.Cheylo et.al. Reg. No a201406222; publ. 10.11.2016, Bul. No 21.

K.-W. Cheng, Y.-H. Wu, T.-H. Chiu, Journal of Power Sources 307, 329 (2016).

Y. Shi, H. Li and L.-J. Li, Chem. Soc. Rev. 44, 2744 (2015).

K.-W. Cheng, C.-H. Yeh, International Journal of Hydrogen Energy 37, 13638 (2012).

F. O. Adurodija, J. Song, S.D. Kim, S. H. Kwon, S. K. Kim, K. H. Yoon, B. T. Ahn, Thin Solid Films 338, 13 (1999).

І. V. Semkiv, А. І. Kashuba, H. A. Ilchuk, M. V. Chekaylo, Physics and Chemistry of Solid State, 16(2), 257 (2015).

I. V. Semkiv, B. A. Lukiyanets, H. A. Ilchuk, R. Yu. Petrus, A. I. Kashuba, M. V. Chekaylo, Journal of Nano- and Electronic Physics 8(1), 01011 (2016).

І. V. Semkiv, Physics and Chemistry of Solid State, 17(3), 346 (2016).

I. V. Semkiv, H. A. Ilchuk, A. I. Kashuba, R. Yu. Petrus, V. V. Kusnezh, Journal of Nano- and Electronic Physics 8(3), 03005 (2016).

S. V. Syrotyuk, I. V. Semkiv, H. A. Ilchuk, V. M. Shved, Condensed Matter Physics 19(4), 43703 (2016).

I. Karakaya and W. T. Thompson, Bull. Alloy Phase Diagrams 8, 340 (1987).

STOE & Cie GmbH, WinXPOW 3.03, Powder Diffraction Software Package, Darmstadt, Germany, 2010.

R. A. Young, IUCr Monographs on Crystallography (Oxford University Press, New York, 1993).

J. Rodriguez-Carvajal, Newsletter 26, 12 (2001).

T. Roisnel, J. Rodriguez-Carvajal, Mater. Sci. Forum, 118, 378 (2001).

L. D. Gulay, I. D. Olekseyuk, O. V. Parasyuk, J. Alloys Compd. 339, 113 (2002).

R. Waser, I. Valov. ECS Transactions 25(6), 431 (2009).

K. J. Yoon, M. H. Lee, G. H. Kim, S. J. Song, J. Y. Seok, S. Han, J. H. Yoon, K. M. Kim and C. S. Hwang, Nanotechnology 23, 185202 (2012).


Повний текст: PDF
7 :: 18

Посилання

  • Поки немає зовнішніх посилань.