Вимірювання термоелектричних параметрів тонкоплівкових напівпровідникових матеріалів методом Хармана

Y. V. Tur, Y. V. Pavlovskyi, I. S. Virt

Анотація


Для аналізу  вимірювання термоелектричних параметрів напівпровідників, використано імпульсний метод Хармана Запропоновано новий підхід для визначення термоелектричної добротності тонких напівпровідникових плівок у  інтервалі температур (300÷500)К шляхом безпосереднього вимірювання ряду параметрів електричного кола. Детально описано теорію методу, застосування його у методиці вимірювань.  Досліджено залежності електричних величин, зокрема напруги - V(t), від часу при різних значеннях імпульсів струму для тонких  плівок  PbTe<Tl> вирощених імпульсним лазерним осадженням.


Ключові слова


thin films; lead telluride; thermoelectric quality factor; the Harman method; pulsed-laser deposition.

Посилання


B. Beltrán-Pitarch , J. Prado-Gonjal, A. V. Powell, J. García-Cañadas, Journal of Applied Physics 125(2), 025111 (2019) (doi.org/10.1063/1.5077071).

L. Liang, X. Si-chao, L. Guang-hai , Chinese Journal of Chemical Physics , 29(3), 365 (2016) (DOI: 10.1063/1674-0068/29/cjcp1509194).

A. Satake, H. Tanaka, T. Ohkawa, T. Fujii, I. Terasaki, Journal of Applied Physics, 96(1), 931 (2004) (doi.org/10.1063/1.1753070).

E. E. Castillo, C. L. Hapenciuc, T. Borca-Tasciuc, Review of Scientific Instruments, 81(4), 044902 (2010) (doi.org/10.1063/1.3374120).

B. Kwon, Seung-Hyub Baek, S. Keun Kim, Jin-Sang Kim, Review of Scientific Instruments, 85 (4), 045108 (2014) (doi.org/10.1063/1.487041).

D. Olaya, Chien-Chih Tseng, Wen-Hao Chang, Wen-Pin Hsieh, Lain-Jong Li, Zhen-Yu Juang, Y. Hernández, Journal FlatChem, 14(1), 100089 (2019) (https://doi.org/10.1016/j.flatc.2019.100089).

Zhen-Yu Juang, Chien-Chih Tseng, Y. Shi, Wen-Pin Hsieh, S. Ryuzaki, N. Saito, Chia-En Hsiung, Wen-Hao Chang, Y. Hernandez, Y. Han, K. Tamada, Lain-Jong Li, Journal Nano Energy 38(3), 385 (2017) (doi:10.1016/j.nanoen.2017.06.004).

J. de Boor, V. Schmidt, Applied Physics Letters, 99(2), 022102 (2011) (doi:10.1063/1.3609325).

T. Favaloro, A. Ziabari, J.-H. Bahk, P. Burke, H. Lu, J. Bowers, A. Gossard, Z. Bian, A. Shakouri, Applied Physics Letters, 116(3), 034501 (2014) (doi: 10.1063/1.4885198).

Y. Hasegawa , M. Otsuka, AIP Advances, 8(2), 075222 (2018) (doi.org/10.1063/1.5040181).


Повний текст: PDF PDF (English)
7 :: 20

Посилання

  • Поки немає зовнішніх посилань.